索信蘇州光柵尺參數(shù)：
測量范圍： 50mm～3000mm
外型尺寸：M(小尺：20—40mm)、A（中尺:50—1000mm）、B（大尺:1300—3000mm）
分辨率分為：1um（0.001mm）、5um（0.005mm）
單向重復(fù)精度：2um(0.002mm)
反向重復(fù)精度 3um(0.003mm)
柵距：0.02mm   柵線：50線對(duì)/mm
反應(yīng)速度： 120m/min(0.005mm)    20m/min(0.001mm)
工作溫度：0-45℃        
存儲(chǔ)溫度：-20℃-70℃
輸 出  訊 號(hào)： TTL 、EIA-422-A
供 應(yīng)  電 壓： 5V ±5%  、24V
電纜線長：3m-10m(可加長)
光學(xué)測量系統(tǒng)： 透射式紅外線光測量系統(tǒng)，紅外線波長880nm

索信蘇州光柵尺產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、良好的光學(xué)測量系統(tǒng)，滑動(dòng)部采用己被驗(yàn)證為zui可靠耐用的高精度五軸承系統(tǒng)設(shè)計(jì)， 保證光學(xué)機(jī)械系統(tǒng)的穩(wěn)定性，優(yōu)異的重復(fù)定位性和高等級(jí)測量精度。
2、傳感器采用密封式結(jié)構(gòu)，超溥型（厚型）、性能可靠，安裝、維護(hù)、保養(yǎng)簡易。
3、信號(hào)線采用多層隔離線網(wǎng)遮四罩及金屬外殼保護(hù)防水、防生銹功能。
4、光源采用進(jìn)口紅外發(fā)光二極管，體積小壽命長。
5、光柵尺尺身采用鋁型材，經(jīng)極處理，尺頭部分采用鋅合金壓鑄，防腐防蝕。
6、采用特殊的耐油、耐蝕、高彈性及抗老化塑膠防水，防塵優(yōu)異，使用壽命長。
7、具有高水平的抗干擾能力，高穩(wěn)定性、高速度、耐震動(dòng)。
8、傳感器采用玻璃精密計(jì)量光柵作為測量基準(zhǔn)器，能制作各規(guī)格的高精度光柵玻璃尺。
9、停電記憶采用E2PROM，免換電池，免維護(hù)，記憶十年；   使用1000萬次，是你*保障；
10、振動(dòng)過濾功能：對(duì)于要求高精度的機(jī)床，因此顯示分辨率1um（0.001mm），例如磨床等在加工時(shí)所產(chǎn)生的振動(dòng)往往都超過1um，造成顯示數(shù)值產(chǎn)生來回跳動(dòng)，令操作者看得眼花瞭亂。DELOS采用振動(dòng)過濾器功能，利用精確的數(shù)學(xué)運(yùn)算，在光學(xué)尺進(jìn)行實(shí)時(shí)位置采樣后，將因機(jī)床加工時(shí)所產(chǎn)生的跳動(dòng)過濾，而顯示*的平均位置值，令操作者更舒適地進(jìn)行加工，同時(shí)減少在加工時(shí)人為的判斷誤差。11、非線性誤差補(bǔ)正功能：由于機(jī)床或儀器通常要進(jìn)行精確度加工或測量，受限于機(jī)床或儀器本身床臺(tái)的結(jié)構(gòu)及床臺(tái)的工藝制作水平以及環(huán)境溫度、濕度等影響，往往也達(dá)不到加工或測量的要求，因此必需以光學(xué)尺將磨床的精確度提升至可能的zui高極限。DELOS產(chǎn)品內(nèi)置了在CNC機(jī)械中被普遍使用的非線性誤差補(bǔ)正，將用戶的機(jī)床或儀器，提升至可能的zui高極限。 

主要功能:
  1：坐標(biāo)清零；
  2：預(yù)置數(shù)；
  3：公/英制轉(zhuǎn)換；
  4：/相對(duì)坐標(biāo)轉(zhuǎn)換；
  5：500組用戶坐標(biāo)顯示；
  6：停電記憶；
  7：1/2值自動(dòng)分中功能；
  8：線性誤差修正；
  9：零位自動(dòng)追數(shù)；
  10：502點(diǎn)輔助零位功能；
  11：ABS/INC兩組零位記憶功能
  12：計(jì)算器功能；
  13：圓周分孔；
  14：斜線分孔；
  15：斜度加工；
  16：圓弧加工；
  17：車床功能；
  18：到位控制輸出；
  19：數(shù)字過濾；
  20：半徑/直徑顯示；
  21：RS-232接口（選配）；

  22 :回升高度設(shè)定等
  23:EDM火花機(jī)功能（可滿足絕大多數(shù)機(jī)床加工使用）

  24;自動(dòng)退出.

用途：

光柵尺應(yīng)用于各類機(jī)床的數(shù)顯系統(tǒng)：車床、銑床、磨床、鏜床、鉆床、線切割、火花機(jī).龍門銑床等。另外可接PC、PLC用于各類自動(dòng)化機(jī)構(gòu)的位移測量。